Impressum
Datenschutz
Kontakt
Sitemap
   
Elektronik
Glossar
Elektronik
Chemie
Physik
Mathematik
f-alpha.net » Elektronik » Elektronik-Labor » Glossar » C-MOS

C-MOS

C-MOS steht für Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (Komlementärer Metalloxid-Halbleiter). Es bezeichnet eine Technologie und Herstellungsverfahren, aus denen eine Gruppe von Halbleiterbauelemente aufgebaut ist.

Für eine Beschreibung der C-MOS Technologie stehen dir einige Websites zur Verfügung. Hier findest du eine kleine Auswahl...

Beispiele von C-MOS Halbleiterbausteine, die in den Experimenten benutzt werden, sind...

  • C-MOS Logikbausteine der 4000er-Reihe.

 Zurück zur letzten Seite

Darlington-Transistor

Verwandte Themen

Boolesche Logik
Flip-Flop
Schieberegister
Zähler
Boolesche Algebra
Addierer
Multiplexer
Digitaler Komparator

Verwandte Experimente

Experiment 11 - Der Halbaddierer
Experiment 12 - Der Volladdierer
Experiment 14 - Rückkopplung
Experiment 15 - Flip-Flop
Experiment 16 - Flip-Flop II
Experiment 7 - Das NOR-Gatter
Experiment 8 - Das XNOR-Gatter
Experiment 9 - Logik mit NOR
Experiment 10 - Logik mit NOR II
Experiment 1 - Das NOT-Gatter
Experiment 2 - Das AND-Gatter
Experiment 3 - Das OR-Gatter
Experiment 4 - Das XOR-Gatter
Experiment 5 - Das XOR-Gatter II
Experiment 6 - Das NAND-Gatter
Experiment 1 - Rückkopplung
Experiment 2 - Bistabile Kippstufe
Experiment 3 - RS-Flip-Flop
Experiment 4 - RS-E Flip-Flop
Experiment 5 - D-Flip-Flop
Experiment 6 - DE-Flip-Flop
Experiment 9 - Flankengesteuert
Experiment 10 - JK-Flip-Flop
Experiment 11 - T-Flip-Flop
Experiment 12 - T-Flip-Flop II
Experiment 16 - Zähler II
Experiment 17 - Zähler III
Experiment 19 - Schieberegister II
Experiment 17 - Logik mit NAND
Experiment 24 - Asynchrone Eingänge D-FF
Experiment 20 - RS-Flip-Flop mit NAND
Experiment 21 - RS-Flip-Flop mit NAND II
Experiment 1 - 1-bit Identitäts-Komparator
Experiment 4 - 1-bit Magnitude-Komparator
Experiment 6 - 2-bit Mag.-Komparator II
Experiment 7 - 4-bit Magnitude Komparator
Experiment 8 - 8-bit Magnitude Komparator
Experiment 2 - 2-bit Identitäts-Komparator
Experiment 9 - 2-to-1 Analog-MUX
Experiment 10 - 1-to-2 Analog-DMUX
Experiment 18 - Logik mit NAND II
Experiment 2 - Halbaddierer
Experiment 3 - Volladdierer
Experiment 4 - 2-bit Addierer
Experiment 1 - 1-bit Zähler
Experiment 2 - 2-bit Zähler
Experiment 3 - 4-bit Zähler
Experiment 4 - Mod-6-Zähler
Experiment 5 - Mod-10-Zähler
Experiment 6 - Rückwärtszähler
Experiment 12 - 2-bit Vor-Rückwärtszähler
Experiment 10 - Falscher Syn. 4-bit Zähler
Experiment 14 - Ringzähler
Experiment 15 - Johnson-Zähler
Experiment 20 - 3 Eingang AND-Gatter
Experiment 21 - 3 Eingang AND-Gatter II
Experiment 23 - 4 Eingang AND-Gatter
Experiment 22 - 3 Eingang AND-Gatter III
Experiment 24 - 3 Eingang OR-Gatter
Experiment 25 - 3 Eingang OR-Gatter II
Experiment 26 - 3 Eingang OR-Gatter III
Experiment 27 - 4 Eingang OR-Gatter
Experiment 1 - Speichereinheit
Experiment 2 - 2-bit Schieberegister
Experiment 3 - 4-bit Schieberegister
Experiment 4 - Asynchroner Eingang
Experiment 5 -Schieberegister mit RESET
Experiment 7 - 4-bit Rückwärtszähler
Experiment 9 - Synchroner 2-bit Zähler
Experiment 11 - Synchroner 4-bit Zähler
Experiment 25 - JK-Flip-Flop (Latch)
Experiment 22 - DE-Flip-Flop mit NAND
Experiment 26 - JK-E Flip-Flop (Latch)
Experiment 23 - Asynchroner Eingang DE
Experiment 1 - 2-to-1 Multiplexer
Experiment 2 - 4-to-1 Multiplexer
Experiment 3 - 1-to-2 Demultiplexer
Experiment 4 - 1-to-4 Demultiplexer
Experiment 6 - Bilaterale Schalter
Experiment 7 - EIN-Widerstand
Experiment 8 - Analogschalter

Verwandte Glossar

TTL

Nützliche Information

Datenblatt

Social Media

     

www.f-alpha.net
Login